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产品详情
高精度快速测量
搭载科学级高精度恒温制冷阵列探测器,毫秒级全光谱扫描测量,可测<1μs的极快闪光全谱,兼具高分辨率、高灵敏度与低噪声,满足稳态与瞬态光学特性分析。
满足国内外标准要求
满足GB/T 24824、IESNA LM-79及CIE S025标准要求。
5.00E-05的极低杂散光水平
采用高精度光栅与科学级制冷阵列探测器,结合BWCT及修正的NIST杂散光校正技术,HAAS-2000的杂散光水平低至5.00E-05.
0.3%宽线性动态测量范围
优异的光学设计与SBCT技术,实现0.3%的全动态光度线性性能,适应高强度到弱光的宽幅测量。
0.01mcd的极高灵敏度
可检测低至0.01mcd的弱光信号,适配各类弱光检测高精度应用场景。
覆盖200nm~2550nm的宽光谱范围
200nm~2550nm 宽光谱范围(不同规格),满足紫外、可见、红外全波段的光学检测需求,适配多元检测场景。
0.0015 x, y 的色坐标精度
色坐标测量精度高达±0.0015 (x, y)(标准色光下),为LED分选、显示屏校准及高端材料颜色质量控制提供可靠数据基础。